92/138 หมู่ที่ 5 ต.สันทรายน้อย อ.สันทราย จ.เชียงใหม่ 50210 Email : ms_scien@yahoo.com

Tel. : 08-1346 0915, 0-5338 0470 Fax. : 0-5338 0208
Contact for information : ms_scien@yahoo.com

Fischer เครื่องมือวัดแบบสัมผัส | Fischer เครื่องมือวัด XRF | Restek | Restek Reference Standards | Analytichem | Lumex | Ellutia | JAI | Biometrics | Q-Tek GCMS | ข้อมูลบริษัท





FISCHERSCOPE® X-RAY Fluorescence Measuring Systems (XRF) :

        เครื่อง FISCHERSCOPE® X-RAY XRF คือเครื่องมือวัดแบบตั้งโต๊ะหลากหลายรุ่น และแบบพกพา ด้วยความแม่นยำ รวดเร็ว ทนทาน และเชื่อถือได้ : วัดความหนาของผิวเคลือบชุบและวิเคราะห์วัสดุแบบไม่ทำลายผิว ไร้การสัมผัส และสะดวกสบาย เครื่องมือวัดใช้งานง่ายและเหมาะสำหรับการใช้งานเกือบทุกประเภท ด้วยซอฟต์แวร์ WinFTM® การถ่ายโอนข้อมูล การประเมินข้อมูล และการส่งออกข้อมูลจึงมีประสิทธิภาพมากขึ้นกว่าที่เคย






X-RAY XUL and XULM

    เครื่องมือวัดแบบยืดหยุ่นสำหรับการวัดความหนาผิวเคลือบชิ้นส่วนขนาดเล็กๆ เช่น ปลั๊ก หน้าสัมผัส หรือ สายไฟ ตลอดจนการหาปริมาณโลหะในบ่อชุบด้วยไฟฟ้าและองค์ประกอบของชั้นโลหะผสม
    Flexible measuring devices for coating thickness measurement of filigree parts like plugs, contacts, wires or smaller circuit boards as well as for the determination of the metal content of electroplating baths and the composition of simple alloy layers..

X-RAY XAN

    เครื่องมือวัดอเนกประสงค์สำหรับการวิเคราะห์วัสดุและโลหะมีค่า รวมถึงการวัดความหนาผิวเคลือบและการคัดกรอง RoHS บนตัวอย่างที่มีรูปทรงเรียบง่าย
    Universal instrument for metal and precious metal analysis as wellas coating thickness measurement on simple shaped samples andRoHS screening.

X-RAY GOLDSCOPE SD

    เครื่อง XRF ที่แม่นยำ ออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับการวิเคราะห์เครื่องประดับ เหรียญทองคำ และโลหะมีค่าได้อย่างรวดเร็ว คุ้มค่า และไม่ทำลายผิว
    Compact and robust XRF benchtop instrument for fast, cost-effective and non-destructive analysis of jewelry, coins and preciousmetals.

X-RAY GOLDSCOPE SD 600

    เครื่อง XRF ที่ทรงพลัง สำหรับการวิเคราะห์เครื่องประดับ เหรียญทองคำ โลหะมีค่า รวดเร็ว และไม่ทำลายผิว เหมาะสำหรับการวัดชิ้นงานขนาดใหญ่อีกด้วย
    Robust XRF benchtop device optimized for the most powerful, fast and non-destructive analysis of jewelry, coins and precious metals, also suitable for larger parts.

X-RAY XDAL 600

    เครื่องมือ XRF อเนกประสงค์สำหรับการวัดชิ้นงานที่มีโครงสร้างขนาดเล็กที่สุด การเคลือบหลายชั้นที่บางมาก ฟังก์ชันการเคลือบที่บางมาก ≤ 0.1 µm
    Universal instrument for measuring on smallest structures, very thin multilayer coatings, functional coatings and very thin coatings ≤ 0.1 µm.

X-RAY XDL

    เครื่องมือวัด XRF ที่แข็งแกร่งสำหรับการควบคุมคุณภาพของชิ้นส่วนที่ชุบด้วยไฟฟ้าและสำหรับการวิเคราะห์ปริมาณโลหะในบ่อชุบ
    Robust XRF measuring device for quality control of electroplated bulk parts and for bath analysis.

X-RAY XDLM

    เครื่องมือวัดอเนกประสงค์สำหรับวัดชิ้นส่วนขนาดเล็กและโครงสร้างขนาดเล็ก การวัดโลหะเบา การเคลือบแข็ง และชิ้นส่วนที่ชุบด้วยไฟฟ้าที่บางมาก
    Universal instrument for inspection of small parts and small structures, measuring of light metals, hard coatings and thin electroplated parts.

X-RAY XDAL

    เครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวัดอัตโนมัติของชั้นบางและบางมาก < 0.05 µm และสำหรับการวิเคราะห์วัสดุในช่วง ppm.
    Universal instrument for automated measuring of thin and very thin layers < 0.05 µm and for material analysis in the ppm range.

X-RAY XDV SDD

    เครื่องมือวัดประสิทธิภาพสูง สำหรับการตรวจวัดผิวเคลือบที่บางหรือโครงสร้างที่ซับซ้อนไปจนถึงการคัดกรอง RoHS
    Powerful measuring device for universal use – from the inspection of very thin or complex layers to RoHS screening at very low detection limits.

X-RAY XDV-µ

    เครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวัดส่วนประกอบและโครงสร้างที่เล็กและแบนที่สุด รวมถึงผิวชุบหลายชั้นที่ซับซ้อน.
    Universal instrument for measuring on smallest and flat components and structures as well as complex multilayer systems.

X-RAY XDV-µ LD

    เครื่องมือวัด XRF ระดับไฮเอนด์พร้อมเลนส์ polycapillary X-ray สำหรับการวัดบนส่วนประกอบที่เล็กที่สุด โดยมีจุดตรวจวัดที่เล็กที่สุดและระยะการวัดที่ใหญ่ที่สุด
    High-end XRF measuring device with polycapillary X-ray optics for measuring on smallest components with smallest measuring spot and largest measuring distance.

X-RAY XDV-µ WAFER

    เครื่องมือวัดพิเศษสำหรับการวัดฟิล์มบางและผิวชุบหลายชั้นแบบอัตโนมัติบนแผ่นเวเฟอร์ที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางตั้งแต่ 6 - 12 นิ้ว
    Special equipment for automated measurements of thin films and multilayer systems on wafers with diameters from 6 - 12 inches.

X-RAY XDLM PCB

    เครื่องมือวัดอเนกประสงค์ระดับเริ่มต้นสำหรับการวัดส่วนประกอบและโครงสร้างขนาดเล็กบน PCB อย่างง่าย
    Universal entry-level instrument for simple measurements of components and small structures on PCBs.

X-RAY XDAL PCB

    เครื่องมือวัดอเนกประสงค์สำหรับการวัดโครงสร้างขนาดเล็ก การเคลือบหลายชั้น การเคลือบเชิงฟังก์ชัน และการเคลือบบาง < 0.1 µm
    Universal instrument for measurements on small structures, multilayer coatings, functional coatings and thin coatings < 0.1 µm.

X-RAY XDV-µ PCB

    เครื่องมือวัด แบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ! เป็นโซลูชันเฉพาะสำหรับการวัดโครงสร้างที่เล็กที่สุดรวมถึงการเคลือบที่บางมากบน PCB
    Reliable and fully automatic! the specialized solution for measuring smallest structures as well as very thin coatings on PCBs.

X-RAY XAN-500

    เครื่องมือวัดแบบพกพาอเนกประสงค์ เคลื่อนที่ได้เหมาะสำหรับการวัดความหนาของชั้นเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุที่แม่นยำ แม้ว่าจะผสมวัสดุได้ยากก็ตาม
    Mobile and universal handheld device for precise coating thickness measurement and material analysis – even with difficult material combinations.

X-RAY MODULAR CHAMBER

    ห้องวัดพิเศษขนาดใหญ่ สำหรับการผสานรวมเทคโนโลยีการตรวจวัดFischer เอกซเรย์ สำหรับการวัดความหนาของชั้นเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุบนชิ้นงานขนาดใหญ่
    Large special housing for integrating Fischer X-ray measurement technology for measuring coating thickness and material analysis on large workpieces.

Calibration Standards XRF

    มาตรฐานการสอบเทียบที่ตรวจสอบย้อนกลับได้มากกว่า 500 รายการ คุณจึงสามารถวางใจผลการวัดที่เชื่อถือได้อย่างแน่นอนสำหรับงานตรวจวัดทุกประเภท
    Calibration standards with over 500 traceable calibration standards, you can rely on absolutely reliable measurement results for every measuring task.

Software WinFTM

    ซอฟต์แวร์แอปพลิเคชันการวัดความหนาของชั้นเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุที่ทรงพลังที่สุดในตลาด
    The most powerful coating thickness measurement and material analysis application software on the market.

Accessories XRF

    เมื่อจับคู่กับกลุ่มผลิตภัณฑ์ขนาดใหญ่ของเรา คุณจะพบกับอุปกรณ์เสริมที่หลากหลายสำหรับเครื่องมือวัดของคุณ
    Matching our large product portfolio, you will find a wide range of accessories for your measuring device.

ท่านสามารถสอบถามรายละเอียดคุณลักษณะสินค้า เพิ่มเติมได้ที่
E-mail : ms_scien@yahoo.com



Products List/สินค้าทั้งหมด | Top